О. М. Жигалина

Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств

О. М. Жигалина

Подробнее...

Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам

О. М. Жигалина

Подробнее...

Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам

О. М. Жигалина

Подробнее...