Dieses Lernen erfolgte einerseits in dem Bestreben, möglichst viel theoretisches Wissen in der Praxis anzuwenden, andererseits aber auch nach dem Motto „Probieren geht über studieren“. So wuchs ein reicher Erfahrungsschatz heran, den der Autor in langjähriger Tätigkeit bei einem führenden Hersteller von ICP Emissionsspektrometern bei Methodenentwicklungen, Ausbildung und Beratung von Anwendern erweiterte, dann als interner Berater bei der Entwicklung eines neuen ICP Emissionsspektrometers nutzte und schließlich in freiberuflicher Beratertätigkeit erfolgreich einsetzte.
Oft waren es die gleichen Themen, die zu Stolpersteinen bei der Anwendung in der Routine, aber auch bei der Methodenentwicklung wurden. In einwöchigen Kursen, die der Autor über Jahre hinweg manchmal fast monatlich gab, tauchten in schöner Regelmäßigkeit immer wieder die gleichen Fragen auf, denen eine mehr oder minder ausführliche Antwort folgte. Diese Fragen wurden nach und nach zum Nutzen späterer Kursteilnehmer in das reguläre Kurspensum integriert. Sie finden einige ausgewählte, häufig gestellte Fragen in den besonders gekennzeichneten „Kästen“ in diesem Buch. Eine Frage musste der Autor allerdings immer negativ beantworten: „Gibt es ein deutschsprachiges, leicht verständliches, anwenderorientiertes Buch über die ICP OES?“. So entstand die Idee, selbst ein Buch zu schreiben, in dem der Erfahrungsschatz von zwei Jahrzehnten eigenen Probierens wie auch Lehrens einfließen sollte. Diese Idee blieb lange Zeit als Vorsatz bestehen, bis sie sich endlich verdichtete und in Form dieses Werkes materialisierte.
Lieber Leser, ich hoffe, dass Sie in dem Ihnen vorliegenden Buch die Antworten auf die Fragen über die ICP OES finden, die Sie sich schon lange in Ihrem Laboralltag stellten. Und wenn dann der anfangs erwähnte Satz nicht in Ihrem Laborjournal auftaucht oder Ihnen als heimlicher Stoßseufzer entweicht, sondern Sie mit Ihrem ICP Emissionsspektrometer viele nutzbringende Messwerte erhalten, dann hat sich die Lektüre dieses Buches gelohnt.
Stein am Rhein, April 2012
Joachim Nölte
Verzeichnis der Abkürzungen
AAS | Atomabsorptionsspektrometrie |
BEC | Background equivalent concentration – Untergrundäquivalenzgehalt |
c | Lichtgeschwindigkeit |
c | Konzentration |
CCD | Charge-couple device |
CID | Charge-injection device |
CMOS | Complementary metal-oxide-semiconductor |
cps = c/s | Counts per second – Zählereignisse pro Sekunde |
CTD | Charge-transfer device |
d | Abstand zwischen zwei Gitterfurchen |
E | Energie |
ETV | Electrothermal vaporization – elektrothermische Verdampfung |
FACT | Fast automated curve-fitting technique |
FIA | Flow injection analysis – Fließinjektionsanalyse |
FWHH | Full width at half height – Halbwertbreite |
h | Planck’sches Wirkungsquantum |
HD-PE | High-density polyethylen |
I | Intensität |
ICP | Inductively-coupled plasma – induktiv gekoppeltes Plasma |
IEC | Inter-element-correction – Interelementkorrektur |
k | Konstante |
LIPS | Laser induced plasma spectrometry – laserinduzierte Plasmaspektrometrie MHz Mega-Hertz |
MS | Massenspektrometrie |
MSF | Multikomponenten-Spektrenfitting |
n | Optische Ordnung |
OES | Optische Emissionsspektrometrie |
PEEK | Polyetheretherketon |
PDA | Photodiodenarray |
PFA | Perfluoroalkoxy |
PMT | Photomultiplier tube |
PP | Polypropylen |
ppb | Parts per billion – ein Teil in einer Milliarde – besser: μg/kg oder μg/L |
ppm | Parts per million – ein Teil in einer Million – besser: mg/kg oder mg/L |
PTFE | Polytetrafluorethylen |
PVC | Polyvinylchlorid |
r | Auflösung |
R | Auflösungsvermögen |
RSD | Relative standard deviation – relative Standardabweichung |
s | Standardabweichung |
SCD | Segmentierter charge-coupled-device Detektor |
SRM | Standard reference material – Standardreferenzmaterial |
USN |
Ultrasonic nebulizer
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