Оценка надежности электромагнитных компонентов электронной аппаратуры - Вадим Шахнов
Автор: | Вадим Шахнов |
Издательство: | МГТУ им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет) |
Серия: | |
Жанр произведения: | |
Год издания: | 2020 |
isbn: | 978-5-7038-5537-9 |
Представлена методика оценки показателей надежности электромагнитных электрорадиоэлементов с учетом их конструктивного исполнения, технологии изготовления и изменения характеристик материалов в условиях эксплуатации. Показано, что в процессе длительной эксплуатации сопротивление электрической изоляции существенно изменяется, и это приводит к снижению надежности аппаратуры. Рассмотрены причины отказов электромагнитных компонентов (магнитопроводов, обмоток, ферритовых материалов), приведены результаты исследования их надежности. Для преподавателей, студентов и специалистов, занимающихся разработкой и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры различного назначения.