Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов - Леонид Алексеевич Потапов
| Автор: | Леонид Алексеевич Потапов |
| Издательство: | Издательство ЛАНЬ |
| Серия: | Высшее образование (Лань) |
| Жанр произведения: | Техническая литература |
| Год издания: | 2021 |
| isbn: | 978-5-8114-8773-8 |
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам вузов, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».