Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств - И. О. Атовмян
| Автор: | И. О. Атовмян |
| Издательство: | НОУ «МФПУ «Синергия» |
| Серия: | Прикладная информатика. Научные статьи |
| Жанр произведения: | Математика |
| Год издания: | 2014 |
| isbn: |
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.