Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов - Юрий Ягодкин
| Автор: | Юрий Ягодкин |
| Издательство: | МИСиС |
| Серия: | |
| Жанр произведения: | Педагогика |
| Год издания: | 2009 |
| isbn: |
В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности.